可控硅怎么测量好坏-可控硅的性能可以通过多种测量方法来衡量，包括电容、电阻、电流、电压、功率、频率等。其中，电容和电阻是可控硅性能最重要的测量指标，它们测量可控硅好坏的方法如下：万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十
那么如何来检测可控硅的好坏呢？下面就由小编来为大家讲解一下！一、外观检查：外观检查主要是看产品表面是否有裂纹或破损现象以及表面的氧化层是否均匀等状况；二、电阻值测试：单向可控硅怎么测量好坏？单向可控硅测量好坏的方法如下：选择万用表的R*1Ω挡位，再使用红、黑表笔分别测任意两弓|脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的对引
用万用表Rx1K档测量可控硅极间的正反向电阻，选出正反向电阻相差很大的两个极，其中在所测阻值较小的那次测量中，黑表笔所接为控制极(G),红表笔所接的为阴极(K),剩下的一极就为阳极(A)双向可控硅用途较广，但其电气特性较特殊，用万用表有时很难准确测量出其好坏，现用一个简单的触发电路，通过灯泡的亮灭可准确判断出可控硅的好坏方法说明：1、如图，第1脚是T1脚，第2脚
